03 خرداد 1403
نادر قبادي

نادر قبادی

مرتبه علمی: دانشیار
نشانی:
تحصیلات: دکترای تخصصی / فیزیک-حالت جامد
تلفن:
دانشکده: دانشکده علوم پایه

مشخصات پژوهش

عنوان
بررسی خواص توپوگرافی سطح و چگالی نوری لایههای نازک AZO: تهیه شده به روش کندوپاش مغناطیسی جریان مستقیم
نوع پژوهش مقاله ارائه شده
کلیدواژه‌ها
لایه های نازک اکسید روی آلائیده با آلومینیوم، کندوپاش مغناطیسی جریان مستقیم، توپوگرافی سطح و چگالی نوری
سال 1401
پژوهشگران نادر قبادی

چکیده

در این مقاله لایههای نازک اکسید روی آلائیده با آلومینیومAZO) ) بر زیر لایههای شیشهای به روش کندوپاش مغناطیسی جریان مستقیم لایه نشانی شدهاند. اثر فشار گاز آرگون بر توپوگرافی سطح و چگالی نوری لایههای نازکAZO مورد ارزیابی قرار گرفت. توپوگرافی سطحی لایهها نشان میدهد با افزایش فشار گاز آرگون از تا ، پارامتر زبری از 60.62 به 8.013 نانومتر افزایش مییابد که این نتیجه نشان میدهد با افزایش فشار گاز آرگون اندازه نانو بلورک ها افزایش یافته است، همچنین چگالی نوری لایههای نازک AZO تا انرژی 8 الکترون ولت ثابت، سپس این پارامتر از انرژی 8 تا 803 الکترون ولت دارای شیب تندی میشود.