09 خرداد 1403
ولي دلوجي

ولی دلوجی

مرتبه علمی: دانشیار
نشانی:
تحصیلات: دکترای تخصصی / فیزیک حالت جامد
تلفن: 0813339841
دانشکده: دانشکده علوم پایه

مشخصات پژوهش

عنوان
توپوگرافی X-Z ،توان تراکم طیفی و ابعاد فراکتال الیههای نازک نیکل- مس با درصد متفاوت مس
نوع پژوهش مقاله ارائه شده
کلیدواژه‌ها
Ni-Cu thin films, AFM, Z-X topography, Power spectral density, Fractal dimensions.
سال 1400
پژوهشگران ولی دلوجی

چکیده

Ni-Cu nanoparticles on carbon thin films were prepared using acetylene gas and Ni and Cu targets. First, nickel nanoparticles were prepared in a carbon substrate. Then a layer of copper with different percentages was made on it. Scanning Electron Microscopy (SEM) and Atomic Force Microscopy (AFM), the catalyst and CNTs were characterized. Also, power spectral density (PSD) and fractal dimensions were obtained from AFM data