در این طرح به ارائه ی یک روش نوین برای بازسازی توپوگرافی سطوح خمیده بر اساس اختلاف بهره ی پرتوی ایکس حاصل از پروتون فرودی به نمونه در دو آشکارساز همزمان پرتوی ایکس (stereo-PIXE) می پردازیم. عدم تقارن در بهره ی پرتوی ایکس به دست آمده در دو آشکارساز ناشی از اختلاف جذب پرتوی مشخصه ایکس در ماده در راستای آشکارسازها و به دلیل ساختار ناهموار سطح نمونه می باشد. به منظور تعیین این برجستگی ها و فرورفتگی های موجود در سطح در ابعاد میکرونی به ارائه ی یک مدل با سطح استوانه ای می پردازیم. با محاسبه عدم تقارن بهره ی ایکس حاصل از مدل به کار رفته در زاویه ی سطح نمونه در محل فرود باریکه پروتونی، ماتریس تصویر عدم تقارن به دست آمده در آشکارسازها به ماتریس زاویه ی محلی سطح نمونه تبدیل می شود. در نهایت با انتگرال گیری از شیب زاویه سطح نمونه توپوگرافی سطح به صورت کمی به دست می آید. استفاده از روش استروپیکسی برای تعیین توپوگرافی نمونه های فلزی تخت قبلاً به کار رفته است.
