در این مقاله به بررسی نقش سطوح خمیده در آنالیز مواد به روش پیکسی می پرداریم. باریکه پرتون پس از عبور از نمونه، اشعه ایکس از خود ساطع می کند. این اشعه حین عبور از نمونه تضعیف شده و در خارج توسط دو آشکارساز سمت راست و چپ اندازه گیری می شود. چنان چه سطح نمونه خمیده باشد بر روی میزلن جذب پرتوی ایکس تاثیر گذار خواهد بود. لذا می توان عدم تقارن بهره پرتوی ایکس را در دو آشکارساز سمت چپ و راست باریکه فرودی برای مدل نمونه استوانه ای شکل محاسبه کرد. عدم تقارن در زاویه سطح نمونه در محل فرود باریکه یونی وابسته به شعاع انحناء است. محاسبات نشان می دهد که بهره پرتوی ایکس برای مدل استوانه ای شکل متاثر از شعاع استوانه است که با نادیده گرفتن آن موجب خطای تحلیلی توزیع عنصری در نمونه می شود.
