در این مقاله به ارائه ی یک روش نوین برای بازسازی توپوگرافی سطح بر اساس اختلاف بهره ی پرتوی ایکس حاصل از پروتون فرودی به نمونه در دو آشکارساز هم زمان پرتوی ایکس می پردازیم. عدم تقارن در بهره ی پرتوی ایکس به دست آمده در دو آشکارساز ناشی از اختلاف جذب پرتوی مشخصه ایکس در ماده در راستای آشکارسازها و به دلیل ساختار ناهموار سطح نمونه می باشد. به منظور تعیین این برجستگی ها و فرورفتگی های موجود در سطح در ابعاد میکرونی به ارائه ی یک مدل با سطح تخت می پردازیم. با محاسبه عدم تقارن بهره ی ایکس حاصل از مدل به کار رفته در زاویه ی سطح نمونه در محل فرود باریکه پروتونی، ماتریس تصویر عدم تقارن به دست آمده در آشکارسازها به ماتریس زاویه ی محلی سطح نمونه تبدیل می شود. در نهایت با انتگرالگیری از شیب زاویه سطح نمونه توپوگرافی سطح به صورت کمی به دست می آید. استفاده از روش استروپیکسی برای تعیین توپوگرافی نمونه های فلزی به کار رفته است و با نتایج حاصل از پروفیلومتر سوزنی مقایسه شده است.
