عنوان
|
تأثیر آلایش نیکل بر ویژگیهای فوتوکاتالیستی لایه های نازک اکسید روی
|
نوع پژوهش
|
مقاله ارائه شده
|
کلیدواژهها
|
لایهی نازک، اکسید روی، ویژگی فوتوکاتالیستی، گاف انرژی اپتیکی
|
چکیده
|
که با استفاده از روش لایه نشانی چرخشی تهیه شدهاند، بررسی شد. ویژگی های ZnO بر ویژگیهای فیزیکی و فوتوکاتالیستی لایههای نازک Ni تأثیر میزان آلایش میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی ( XRD) ساختاری، میکروساختاری، و خاصیت فوتوکاتالیستی پودرهای به دست آمده توسط دستگا ه های پراش پرتو نشان دادند که لایه بدون آلایش درای ساختار بلوری ورتزیت هگزاگونال XRD مورد بررسی قرار گرفت. الگوهای (UV-Vis) و جذب فرا بنفش- مرئی ( FE-SEM) گاف انرژی افزایش Ni دیده میشوند. بررسی طیف جذبی نمونهها نشان داد که با آلایش NiO را بدون هیچ فاز ثانویهای است ولی با آلایش نیکل قلههای ترکیب 3 میرسد. بررسی فوتوکاتالیستی لایهها درتخریب آلایندهی رنگی قرمز کنگو نشان داد که پس از 120 دقیقه تابش نور مرئی، قله جذب آلاینده / 3 به 9 / مییابد و از 3 در محلول بر اثر لایهها کاهش یافته است. بیشترین کاهش مربوط به لایه آلاییده با % 1وزنی نیکل برابر با % 48 به دست آمد
|
پژوهشگران
|
علی غیاسوند (نفر سوم)، ابوالفضل شیرزادی (نفر اول)، حامد بحیرایی (نفر دوم)
|